Сведения о средстве измерений: 94033-24 Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности

Номер по Госреестру СИ: 94033-24
94033-24 Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
(IIS)

Назначение средства измерений:
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности IIS деталей и профилях являются гранитное основание, на котором смонтирована колонна с направляющими, на которой крепится блок ведущего привода с датчиком и закрепленной на нем щуповой консолью. Управление всеми перемещениями осуществляется при помощи меню на экране монитора, а также джойстиком в ручном режиме. Джойстик может быть закреплен на гранитном основании прибора или специальном столе. Приборы работают под управлением входящего в комплект персонального компьютера. (далее по тексту - приборы) предназначены для измерений профилей различных (или) параметров шероховатости, а также для определения в измеренных геометрических параметров: расстояний между точками, радиусов дуг и углов.

сертификация программного обеспечения
Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 1
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 1
Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 2
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 2
Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 3
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 3
Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 4
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 4
Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 5
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 5
Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 6
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 6
Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 7
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 7
Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 8
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 8
Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 9
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 9
Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, http://oei-analitika.ru рисунок № 10
Внешний вид.
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Рисунок № 10

Общие сведения

Дата публикации - 13.12.2024
Срок свидетельства - 11.12.2029
Номер записи - 195853
ID в реестре СИ - 1421776
Тип производства - серийное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Методика поверки

Модификации СИ

Wave CR-300-2-E, Wave CR-100-1-E,

Производитель

Изготовитель - Общество с ограниченной ответственностью "Интегрированные Интеллектуальные Системы" (ООО "ИИС"), Московская обл., г. Балашиха (производственная площадка: Xi’an Wilson Precision Instruments Co., Ltd
Страна - КИТАЙ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности -

Отчет позволяет выбрать период исследования (например, с 2010 по 2023 годы) и группы СИ (например, [GNSS-ПРИЕМНИКИ СПУТНИКОВЫЕ] [GNSS-ПРИЕМНИКИ СПУТНИКОВЫЕ ГЕОДЕЗИЧЕСКИЕ]) и получить по заданным входным условиям информацию о типах СИ, входящих в выбранные группы, количестве поверок (всех, первичных, периодических и извещений) и количестве средств измерений каждого из типов СИ.

Пояснения
Поверок - всего поверок за выбранный период
Первичных поверок - в качестве маркера первичной поверки берется статус, передаваемый из АРШИН (это не аналитика, а статус из АРШИНа)
Периодических поверок - в качестве маркера периодической поверки берется статус, передаваемый из АРШИН
Без статуса - вычисляется по формуле: Поверок-(Первичных поверок+Периодических поверок)
Кол-во извещений - в качестве маркера извещения поверки берется статус, передаваемый из АРШИН
Кол-во СИ - количество уникальных СИ (год + заводской номер + СИ), поверенных за выбранный период
Кол-во действующих СИ - количество уникальных СИ (год + заводской номер + СИ), действующими на сегодняшнюю дату поверками. Сюда попадают СИ, где поле с датой окончания поверки пустое (т.е. для СИ есть только первичная поверка при выпуске с производства и это не извещение о непригодности) или дата окончания поверки еще не истекла.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Статистика

Кол-во поверок - 5
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 0
Кол-во средств измерений -
Кол-во владельцев -
Усредненный год выпуска СИ -
МПИ по поверкам - дн.

Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ

№2939 от 2024.12.11 ПРИКАЗ_Об утверждении типов средств измерений (16)

Наличие аналогов СИ: Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений Общество с ограниченной ответственностью "Интегрированные Интеллектуальные Системы" (ООО "ИИС"), Московская обл., г. Балашиха (производственная площадка: Xi’an Wilson Precision Instruments Co., Ltd

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
94033-24
11.12.2029
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности, IIS
Общество с ограниченной ответственностью "Интегрированные Интеллектуальные Системы" (ООО "ИИС"), Московская обл., г. Балашиха (производственная площадка: Xi’an Wilson Precision Instruments Co., Ltd (КИТАЙ )
ОТ
МП
1 год

Кто поверяет Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2025 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
ООО "КВАЗАР"
(RA.RU.310696)
  • Wave CR-100-1-E
  • Wave CR-300-2-E
  • 5 5 5 0 0 5 5 0

    Стоимость поверки Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS)

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

    Программное обеспечение

    Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности IIS работают под управлением метрологически значимого программного обеспечения «WAVE»» (далее - ПО), установленного на персональный компьютер, предназначенного для обеспечения взаимодействия узлов прибора, выполнения съёмки, сохранения и экспорта измеренных величин, а также обработки результатов измерений.

    Для защиты ПО от несанкционированного доступа используют USB-ключ.

    Метрологически значимая часть не выделена, все ПО является метрологически значимым.

    Уровень защиты ПО «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

    Таблица 2 - Идентификационные данные программного обеспечения

    Идентификационные данные (признаки)

    Значение

    Идентификационное наименование ПО

    WXZ

    Номер версии (идентификационный номер ПО), не ниже

    3.0

    Цифровой идентификатор ПО

    отсутствует


    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа

    наносится типографским способом на титульные листы руководства по эксплуатации и паспорта, а также на маркировочную наклейку.


    Сведения о методиках измерений

    Сведения о методиках (методах) измерений

    приведены в разделе 3 «Использование по назначению» руководства по эксплуатации КОН.401162.002-2024 РЭ.


    Нормативные и технические документы

    Нормативные документы, устанавливающие требования к средству измерений

    КОН.401162.002-2024 ТУ «Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности IIS. Технические условия»;

    Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 6 апреля 2021 г. № 472 «Об утверждении Государственной поверочной схемы для средств измерений геометрических параметров поверхностей сложной формы, в том числе эвольвентных поверхностей и угла наклона линии зуба»;

    Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 6 ноября 2019 г. № 2657 «Об утверждении Государственной поверочной схемы для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz в диапазоне от 0,001 до 12000 мкм и Ra в диапазоне от 0,001 до 3000 мкм»;

    Приказ Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 29 декабря 2018 г. № 2840 «Об утверждении Государственной поверочной схемы для средств измерений длины в диапазоне от 1^10-9 до 100 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм».

    Правообладатель

    Общество с ограниченной ответственностью «Интегрированные Интеллектуальные Системы» (ООО «ИИС»)

    ИНН 5001091708

    Юридический адрес: 143910, Московская обл., г. Балашиха, ул. Калинина, д. 17/10, к. 2, Художественная мастерская (3)

    Телефон: +7 (495) 529-63-56

    E-mail: ceo@ii-system.ru

    Web-сайт: интеллект-системы.рф

    Изготовитель

    Общество с ограниченной ответственностью «Интегрированные Интеллектуальные
    Системы» (ООО «ИИС»)
    ИНН 5001091708
    Юридический адрес: 143910, Московская обл., г. Балашиха, ул. Калинина, д. 17/10, к. 2, Художественная мастерская (3)
    Производственная площадка: Xi'an Wilson Precision Instruments Co., Ltd, Китай, Room 104, Building 1, No. 55, Gongye Er Road, National Civil Aerospace Industry Base, Xi'an, Shaanxi
    Телефон: +7 (495) 529-63-56
    E-mail: ceo@ii-system.ru
    Web-сайт: интеллект-системы.рф

    Испытательный центр

    Общество с ограниченной ответственностью «Квазар» (ООО «Квазар»)
    Адрес: 108823, г. Москва, пос. Рязановское, п. Знамя Октября, д. 31, помещ. 38, 39, 40
    Телефон: +7 (495) 968-29-47, 8-926-282-27-78
    E-mail: info@quasar-m.ru

    Правообладатель

    Общество с ограниченной ответственностью «Интегрированные Интеллектуальные Системы» (ООО «ИИС»)
    ИНН 5001091708
    Юридический адрес: 143910, Московская обл., г. Балашиха, ул. Калинина, д. 17/10, к. 2, Художественная мастерская (3)
    Телефон: +7 (495) 529-63-56
    E-mail: ceo@ii-system.ru
    Web-сайт: интеллект-системы.рф

    Конструкция приборов консольная, основными элементами которой

    Принцип действия приборов основан на принципе ощупывания неровностей исследуемой поверхности щуповой консолью с алмазным, рубиновым или твердосплавным наконечником и преобразования возникающих при этом механических колебаний щупа в изменения напряжения, пропорциональные этим колебаниям, которые усиливаются и преобразуются в микропроцессоре. Результаты измерений выводятся на монитор персонального компьютера из состава прибора, в виде профилей, числовых значений параметров шероховатости и геометрических параметров профилей.

    Приборы выпускаются в различных модификациях, обозначение кода структуры указано на рисунке 1, расшифровка в таблице 1, отличающихся внешним видом и метрологическими характеристиками указанными в таблице 3.

    Пломбирование приборов не предусмотрено.

    Нанесение знака поверки на средство измерений предусмотрено, способом наклеивания или оттиска поверительного клейма.

    Заводской номер приборов методом печати в числовом формате указывается на маркировочной наклейке, расположенной на боковой поверхности гранитного измерительного стола.

    Общий вид приборов представлен на рисунке 2, датчиков указан на рисунке 3, приводов датчика по оси Х указан на рисунке 4.

    Общий вид маркировочной наклейки представлен на рисунке 5.

    Место расположения заводского номера, знака утверждения типа и поверки указано на рисунке 6.

    IIS

    -

    WAVE

    -

    С

    -

    Х

    -

    T

    -

    Z1

    -

    M

    -

    Z

    I_________________________________________________I

    2

    I_________________________________________________I

    4

    I_________________________________________________I

    7

    I_________________________________________________I

    6

    I_________________________________________________I

    3

    I_________________________________________________I

    5

    I________________________________________________________________I

    1

    I____________________________________________________________________I

    0

    Рисунок 1 - Обозначение кода структуры модификаций

    Таблица 1 -

    обозначения

    Позиция

    Код

    Описание

    0

    IIS

    Общее обозначение типа средства измерений

    1

    WAVE

    - обозначение серии

    2

    C CR CRA

    • - Контур

    • - Контур/Шероховатость

    • - К/Ш повышенной точности

    3

    100, 120, 150, 200, 300

    - длина направляющей по оси X, мм

    4

    1

    2

    • - Г-щуп

    • - Т-щуп

    5

    A

    B

    C

    D

    E

    • - высота качания детектора 5 мм;

    • - высота качания детектора 25 мм;

    • - высота качания детектора 40 мм;

    • - высота качания детектора 50 мм;

    • - высота качания детектора 60 мм;

    6

    М

    - измерительная колонна*

    7

    300, 400, 500, 620

    - высота измерительной колонны по оси Z*, мм

    * - Указывается в случае наличия измерительный колонны.

    Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS), http://oei-analitika.ru
    Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS), http://oei-analitika.ru

    Модификации IIS-WAVE-CRA, IIS-WAVE-CR Модификации nS-WAVE-С, IIS-WAVE-CR

    Рисунок 2 - Общий вид приборов для измерений параметров контура и шероховатости поверхности IIS

    Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS), http://oei-analitika.ru

    Вариант 1

    Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS), http://oei-analitika.ru

    Вариант 2

    Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS), http://oei-analitika.ru

    Вариант А

    Рисунок 3 - Общий вид датчиков С, CR, CRA

    Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS), http://oei-analitika.ru
    Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS), http://oei-analitika.ru

    Вариант В

    Рисунок 4 - Общий вид приводов датчиков по оси Х

    Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS), http://oei-analitika.ru

    Вариант Г

    □.тз

    Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 5 - Общий вид маркировочной наклейки

    ЗащдсЕийноаЕрЛЕ 000321

    Ь1однфнкзщн

    nS-\VA\T-CE-10{>-2-C

    Год Еытхка

    01.2034

    Вес

    300 кг

    -3SEf] ГШПрв бЛЁВНЕ

    220 В. 30 Гц

    Гзлатзпшше рзгзЕерш ('ДяШГьБ'). mi

    Siei!225sl740

    Внешний вид. Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности (IIS), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 6 - Место расположения заводского номера, знака утверждения типа и поверки


    Таблица 5 - Комплектность

    Наименование

    Обозначение

    Количество

    Прибор для измерений параметров контура и шероховатости поверхности

    IIS-WAVE-C, IIS-WAVE-CR, nS-WAVE-CRA1)

    1 шт.

    Программное обеспечение, USB ключ

    -

    1 шт.

    Стандартный щуп для измерения контура

    -

    1 шт.

    Стандартный щуп для измерения шероховатости2)

    -

    1 шт.

    Калибровочное приспособление

    -

    1 шт.

    Персональный компьютер с монитором

    -

    1 шт.

    Программное обеспечение на USB носителе

    -

    1 шт.

    Руководство по эксплуатации

    КОН.401162.002-2024 РЭ

    1 экз.

    Руководство пользователя ПО

    КОН.401162.002-2024 ПО

    1 экз.

    Паспорт

    КОН.401162.002-2024 ПС

    1 экз.

    • 1) - в соответствии с заказом;

    • 2)    - для модификаций IIS-WAVE-CR, IIS-WAVE-CRA.


    Таблица 3 -

    Наименование характеристики

    Значение

    IIS-WAVE-C

    IIS-WAVE-CR

    IIS-WAVE-CRA

    1

    2

    3

    4

    При измерении контура поверхности

    Диапазон измерений линейных размеров по оси X1), мм

    от 0 до 300

    от 0 до 300

    от 0 до 300

    Диапазон измерений линейных размеров по оси Z11), мм

    от 0 до 60

    от 0 до 60

    от 0 до 60

    Диапазон измерений линейных размеров по оси Z2), мм

    от 0 до 620

    от 0 до 620

    от 0 до 620

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров по оси X, мкм

    ±(1+0,05-L)

    ±(0,8+0,02^L)

    -

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности перемещения по оси X3), мкм

    -

    -

    ±(0,5+0,012-L)

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров по оси Z1, мкм

    ±(1+0,05-L)

    ±(0,8+0,05^L)

    ±(0,8+0,05^L)

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности перемещения по оси Z2)3), мкм

    ±(1+5-L/10O)

    ±(0,8+5-L/100)

    ±(0,8+5-L/100)

    Диапазон измерений угла

    от 0° до 360°

    от 0° до 360°

    от 0° до 360°

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений угла

    ±1'

    ±1'

    ±1'

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений радиуса, мкм

    ±(1,2+R/12)

    ±(1,2+R/12)

    ±(0,5+R/8)

    Предел допускаемого отклонения от прямолинейности перемещения по оси X, мкм

    0,6 (на 100 мм)

    0,4 (на 100 мм)

    0,4 (на 100 мм)

    При измерении шероховатости

    Диапазон измерений параметра шероховатости Rz, мкм

    -

    от 0,05 до 1000

    от 0,05 до 1000

    Диапазон измерений параметра шероховатости Ra, мкм

    -

    от 0,05 до 860

    от 0,05 до 860

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений параметра шероховатости Rz, мкм

    -

    ±(0,01+0,05^Rz)

    ±(0,01+0,05^Rz)

    таблицы 3

    1

    2

    3

    4

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений параметра шероховатости Ra, мкм

    -

    ±(0,002+0,05^Ra)

    ±(0,002+0,05^Ra)

    Примечания:

    L - измеряемая длинна, мм;

    R - измеряемый радиус в диапазоне от 0,5 до 10,0 мм;

    Параметры щупа при измерении контура поверхности диаметр 3 мм, длинна 24 мм, угол при вершине 12°, радиус при вершине 0,025 мм;

    Параметры щупа при измерении шероховатости диаметр 3 мм, длинна 24 мм, угол при вершине 60°, радиус при вершине 0,005 мм.

    • 1) - указано максимальное значение в зависимости от модификации;

    • 2) - при заказе модификации;

    • 3) - без учета погрешности щупа.

    Таблица 4 - Технические характеристики

    Наименование характеристики

    Значение

    Модификация

    IIS-WAVE-C

    IIS-WAVE-CR

    IIS-WAVE-CRA

    Габаритные размеры, мм, не более:

    - длина

    916

    916

    916

    - ширина

    725

    725

    725

    - высота

    1740

    1740

    1740

    Диапазон позиционирования по оси Z, мм

    650

    650

    650

    Напряжение питания переменного тока, В

    220±20

    Частота переменного тока, Гц

    50,0±2,5

    Масса, кг, не более

    300

    Условия эксплуатации:

    - температура окружающего воздуха, °С

    от +18 до +22

    - относительная влажность окружающего воздуха, %, не

    85

    более


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема

    Ширина

    Левая панель