Mega Analytics v3.3 · random resource promos · report blocks UX · scroll fix
Номер по Госреестру СИ: 41394-09
41394-09 Измерители рентгенофлуоресцентные
(FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®-B, XDLM®-C4)
Назначение средства измерений:
Измерители рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4 (далее - измерители) предназначены для измерения массовой доли компонентов и толщины покрытий методом энергодисперсионной рентгеновской флуоресценции. Основной областью применения являются заводские лаборатории металлургических, металлообрабатывающих и машиностроительных предприятий.
Цифровые продукты для производителей, поверителей и владельцев СИ: автоматизация бизнес-процессов, обмен и визуализация данных.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®-B, XDLM®-C4
Сертификация программного обеспечения, проверка ПО испытательного оборудования, утверждение типа СИ и аттестация методик измерений.
Публичные реестры средств измерений, результатов поверки, эталонов, стандартных образцов, методик и документов по обеспечению единства измерений.
| Владелец | Категория | Количество СИ | Количество поверок | Поверок на одно СИ |
|---|
| UUID | Номер типа | Начало версии | Окончание версии | Состояние |
|---|---|---|---|---|
| 27538433-dc77-a771-14aa-585c145f510a | 41394-09 | 2023-04-29 | — | актуальная |
| d6fe22c5-d478-d788-a6c2-951df08377c0 | 41394-09 | 2023-04-27 | 2023-04-29 | архивная |
| 15bb85d2-5bd7-ee6a-d6fe-22b1e3fd55d2 | 41394-09 | 2020-05-07 | 2023-04-27 | архивная |
Формирование DCC, проверка XML, хранение в реестре, визуализация сертификатов, публичные ссылки и QR-коды.
Специализированный ресурс Ростеста, посвящённый программному обеспечению и цифровым сервисам.
Дата публикации - 29.04.2023
Срок свидетельства - 01.10.2014
Номер записи - 129287
ID в реестре СИ - 351687
Тип производства - серийное
Описание типа
Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
нет данных
Изготовитель - Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik"
Страна - ГЕРМАНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да
Отчет "ET_7. Прослеживаемость аттестованных эталонов единиц величин к Государственным первичным эталонам" предоставляет пользователю аналитическую информацию об эталонах единиц величин, прослеживаемых к выбранному Государственному первичному эталону (ГЭТ). Пользователь выбирает необходимый ГЭТ из выпадающего списка, после чего формируется отчет, содержащий пять графиков и таблицу с детализацией.
| Рег. номер, дата приказа | Наименование эталона | Владелец/держатель эталона | Статус или разряд (уровень) эталона | Статус | Наличие ЛПС, межаттестационный интервал (месяцы) |
|---|---|---|---|---|---|
| 3.7.АСЛ.0001.2024 от 19.01.2024 | - | ФГБУ Северо-Западное УГМС (ИНН: 7801593651; адрес) | Рабочий эталон | Действует | Да, 24 |
ГЭТ1-2022 ГПЭ ЕДИНИЦ ВРЕМЕНИ, ЧАСТОТЫ И НАЦИОНАЛЬНОЙ ШКАЛЫ ВРЕМЕНИ
Этот отчет позволяет пользователю получить всестороннюю информацию об эталонах, связанных с выбранным ГЭТ, анализировать их распределение по различным характеристикам и отслеживать динамику изменений в системе эталонов.
Кол-во поверок - 6
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 0
Кол-во средств измерений - 0
Кол-во владельцев - 1
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 365 дн.
№882 от 2015.07.28 О продлении срока действия свидетельств об утверждении типа средств измерений
№840 от 2020.04.27 ПРИКАЗ о продление свидетельство об утверждении типов СИ 37 шт
| ИМПОРТНОЕ СИ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
|---|
|
№ в реестре cрок св-ва |
Наименование СИ, обозначение, изголовитель | ОТ, МП | МПИ |
|---|---|---|---|
|
41390-09 01.10.2014 |
Измерители рентгенофлуоресцентные, FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-μ, XDVM®-µ-SD, XDV®-µ Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
41391-09 01.10.2014 |
Измерители рентгенофлуоресцентные, FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®-FD, XAN®-DPP Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
41392-09 01.10.2014 |
Измерители рентгенофлуоресцентные, FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-P, XDV®-SD Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
41393-09 01.10.2014 |
Измерители рентгенофлуоресцентные, FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®, XDAL®-FD Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
41394-09 01.10.2014 |
Измерители рентгенофлуоресцентные, FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®-B, XDLM®-C4 Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
41395-09 01.10.2014 |
Измерители рентгенофлуоресцентные, FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®, XULM® Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
44033-10 01.04.2015 |
Микротвердомеры, Fisheroscope® HM2000 S, Fisheroscope® HM2000 XYm, Fisheroscope® HM2000 XYp Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
53704-13 11.05.2024 |
Толщиномеры покрытий , PERMASCOPE MP0R, ISOSCOPE MP0R, DUALSCOPE MP0R, PERMASCOPE MP0R-FP, DUALSCOPE MP0R-FP, DUALSCOPE MP0RH-FP, DELTASCOPE FMP10, ISOSCOPE FMP10, DUALSCOPE FMP20, DELTASCOPE FMP30, ISOSCOPE FMP30, DUALSCOPE FMP40, DUALSCOPE FMP100, DUALSCOPE H FMP150 Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
58227-14 26.03.2029 |
Системы измерительные, FISCHERSCOPE MMS РС2 Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
64384-16 02.09.2025 |
Измерители рентгенофлуоресцентные, Fischerscope X-RAY XDAL 237 Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik" (ГЕРМАНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
Справочник содержит сводную информацию из более чем 40 официальных баз данных по организациям, осуществляющим деятельность в области стандартизации, метрологии, аккредитации. Выборка организаций осуществлялась по общероссийскому классификатору видов экономической деятельности (ОКВЭД) по таким кодам видов деятельности как:
Справочник реализован в виде единой таблицы, имеется возможность поиска и сортировки по любому из полей. В таблице представлена следующая информация: Название компании (сокращенное); ОГРН, ИНН, ОКВЭД, рег. дата; Юр. адрес; ФИО руководителя; Количество сотрудников; Сайты; Email; Телефон; Выручка, прибыль, руб.
Бесплатный
| Наименование организации | Cтатус | Поверенные модификации | Кол-во поверок | Поверок в 2026 году | Первичных поверок | Периодических поверок | Извещений | Для юриков | Для юриков первичные | Для юриков периодические |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Коломенский филиал ФБУ «ЦСМ Московской области» (48) | РСТ | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | ||
| ФГУП «УНИИМ» (01.00258-2011) | РСТ | 5 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
| Организация, регион | Стоимость, руб | Средняя стоимость |
|---|
Знак утверждения типа наносят на титульный лист Руководства по эксплуатации типографским способом и на заднюю панель измерителя методом наклеивания.
1. Рекомендации по метрологии Р 50.2.006-2001 «ГСИ Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм».
2. Техническая документация фирмы “Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik ”, Германия.
Поверка производится в соответствии с методикой поверки «Измеритель рентгенофлуоресцентный FISCHERSCOPE X-RAY XDL/XDAL; XDV; XUL/XAN. Методика поверки», согласованной с ФГУП ВНИИОФИ в июне 2009 года.
Основные средства поверки:
- Государственные стандартные образцы по ГОСТ 8.315-97 «ГСИ. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов» в соответствии с областью применения измерителей рентгенофлуоресцентных и набором определяемых элементов.
- Набор мер толщины покрытий типа НТП на МО, диапазон 3-2000 мкм, 2-й разряд. Р 50.2.006-2001. Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм».
Межповерочный интервал - 1 год.
Принцип действия измерителей основан на излучении химическими элементами, присутствующими в анализируемом образце, характеристических спектральных линий под действием высокоэнергетического излучения рентгеновской трубки. Вторичное рентгеновское излучение классифицируется по энергии излученных квантов с последующей регистрацией энергетического спектра. Специализированное программное обеспечение позволяет рассчитать толщину и элементный состав покрытия.
Основными элементами конструкции измерителей являются:
- Корпус, служащий для размещения агрегатов спектрометра, стабилизации аналитических условий и для защиты пользователя от излучения;
- Рентгеновская трубка - источник рентгеновского излучения;
- Источник питания, служащий для обеспечения всех частей измерителя электроэнергией с определенными характеристиками;
- Видеокамера, служащая для визуального наведения измерителя на определяемую область;
- Детектор (полупроводниковый), служащий для преобразования гамма квантов вторичного рентгеновского излучения в электрический сигнал;
- Персональный компьютер, предназначенный для приема, обработки и выдачи информации под управлением специализированного программного обес
печения.
- Ручное и программируемое координатное устройство для перемещения образца в процессе облучения.
Основное отличие моделей измерителей рентгенофлуоресцентных FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4
|
FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B |
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4 | |
|
Коичесво коллиматоров |
1 |
4 |
|
Тип трубки |
Обычная |
Микрофокусная |
Измерители рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4 выпускаются в 10 модификациях (XDL-B, XDLM-C4, XDL-B XYZp-T8, XDL-B Z А9, XDLM-C4 XYZp T9, XDL-B Z, XDLM-C4 Z, XDL-B XYmZ, XDLM-C4 XYmZ, XDLM-C4 PCB) в зависимости от типа платформы, привода по оси Z и типа привода, что отражается в названии модификации следующим образом:
• по типу платформы, по дистанции перемещения по XY, аббревиатура обозначения: T9, Т8, А9.
• по приводу по оси Z, аббревиатура обозначения: Z
• по типу привода: ручной привод, аббревиатура обозначения: XYmZ;
или автоматический привод аббревиатура обозначения: XYZp или РСВ
|
№ пп |
Наименование |
FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B, XDLM-C4 |
|
1 |
Анализируемые элементы |
от алюминия (Z=13) до урана (Z=92) |
|
2 |
Количество слоев покрытия, не более |
24 |
|
3 |
Диапазон измерения толщины покрытия, мкм |
1-60 |
|
4 |
Предел допускаемой основной абсолютной погрешности измерения толщины покрытия, мкм, не более |
±0,55 |
|
5 |
Предел допускаемого среднеквадратического отклонения (СКО) значений результатов измерения толщины покрытия, не более |
0,2 мкм в диапазоне от 1-^10 мкм 2% в диапазоне от 10-60 мкм |
|
6 |
Диапазон измерения массовой доли компонента, % |
2-100 |
|
7 |
Предел допускаемого среднеквадратического отклонения (СКО) значений результатов измерения массовой доли компонента, %, не более |
1,0 |
|
8 |
Напряжение питания, В При частоте, Гц |
220 (-15-±10)% 50/60 ± 1% |
|
9 |
Потребляемая мощность, кВА, не более |
3,5 |
|
XDL-B и XDLM- С4 |
XDL- BZ |
XDLM- C4Z |
XDL-В XYmZ |
XDLM- С4 XYmZ |
XDL-В XYZp- Т8 |
XDL- В Z А9 |
XDLM-С4 XYZp T9 |
XDLM-C4 РСВ | |
|
Г абаритные размеры, мм, не более Ширина х Глубина х Высота |
570x740x650 |
765x835x705 |
570x740x650 | ||||||
|
Масса, кг, не более |
90 |
95 |
105 |
110 | |||||
|
Условия эксплуатации: Температура окружающей среды, °C |
10-40 | |
|
Относительная влажность воздуха, % |
0-95 | |
|
Высота над уровнем моря, м, не более |
3000 |
