Принцип действия мутномера основан на свойствах света рассеиваться и поглощаться поверхностью взвешенных в жидкости, в основном, твердых частиц. Оптическая схема состоит из лампы накаливания с вольфрамовой нитью, кюветного отсека, детектора рассеянного света (нефелометрический детектор) и детектора проходящего света. Микропроцессор вычисляет значение мутности по уровням сигналов от двух детекторов. Алгоритм расчета учитывает и компенсирует окраску, благодаря чему результаты измерений не зависят от окраски жидкости.

Конструктивно мутномер выполнен в едином корпусе, в котором скомпонованы оптическая схема, микропроцессор, блок клавиатуры и ЛСД экран. Для передачи данных в компьютер предусмотрен интерфейс.

Рисунок 1. Внешний вид мутномера

Рисунок 2. Внешний вид нижней стороны мутномера с обозначением места оттиска производителя и серийного номера

• 1. Диапазон измерений мутности, ЕМФ........................................от 0,1 до 1000

• 2. Выбор диапазона..................................................................автоматически

• 3. Разрешение, ЕМФ

• - в диапазоне от 0,1 до 9,99 ЕМФ

• - в диапазоне от 10,0 до 99,9 ЕМФ

• - в диапазоне от 100 до 1000 ЕМФ

• 4. Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений мутности

• - в диапазоне измерений до 2 ЕМФ

• 5. Пределы допускаемой относительной погрешности измерений мутности

• - в диапазоне св.2 до 1000 ЕМФ , %,

• 6. Пределы допускаемого СКО случайной составляющей

погрешности измерений мутности, %, не более

• 7. Электропитание от батарей типа АА, В

• 8. Габаритные размеры, мм, не более.............................................. 224х87х77

• 9. Масса, кг, не более

• 10. Условия эксплуатации:

• - Рабочий диапазон температур,°С...................................................+10 - +30

• - Относительная влажность воздуха,%

• - Атмосферное давление, кПа...........................................................96 - 104

Комплект поставки мутномера соответствует табл. 2. Таблица 2

• 1. Диапазон измерений мутности, ЕМФ........................................от 0,1 до 1000

• 2. Выбор диапазона..................................................................автоматически

• 3. Разрешение, ЕМФ

• - в диапазоне от 0,1 до 9,99 ЕМФ

• - в диапазоне от 10,0 до 99,9 ЕМФ

• - в диапазоне от 100 до 1000 ЕМФ

• 4. Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений мутности

• - в диапазоне измерений до 2 ЕМФ

• 5. Пределы допускаемой относительной погрешности измерений мутности

• - в диапазоне св.2 до 1000 ЕМФ , %,

• 6. Пределы допускаемого СКО случайной составляющей

погрешности измерений мутности, %, не более

• 7. Электропитание от батарей типа АА, В

• 8. Габаритные размеры, мм, не более.............................................. 224х87х77

• 9. Масса, кг, не более

• 10. Условия эксплуатации:

• - Рабочий диапазон температур,°С...................................................+10 - +30

• - Относительная влажность воздуха,%

• - Атмосферное давление, кПа...........................................................96 - 104

Программное обеспечение выполнено на базе микросхемы серии P80C32.

Основные функции ПО: обработка сигнала от детекторов света и пересчет их в единицы ЕМФ, хранение данных калибровки и результатов измерений, вывод данных на ЛСД экран и на компьютер через USB интерфейс.

Идентификационные данные ПО представлены в табл.1.

Таблица 1

Программное обеспечение можно идентифицировать при вскрытии прибора. Наименование программного обеспечения и номер версии (идентификационный номер) программного обеспечения размещен на плате с микросхемами и виде наклейки. Производителем не предусмотрен иной способ идентификации программного обеспечения. Обновление программного обеспечения в процессе эксплуатации прибора не предусмотрено.

Защита ПО и данных от непреднамеренных и преднамеренных изменений.

Метрологически значимая часть ПО размещается в микросхемах серии P80C32, которые имеют защиту внутренней программы от доступа и модификации. Регулировочные настройки внутренней программы устанавливаются при производстве и не могут быть изменены в дальнейшем. Данные приборы имеют аппаратную защиту от несанкционированного изменения метрологических характеристик.

Доступ к микросхемам исключён конструкцией аппаратной части мутномера и способом монтаж микросхем на электронной плате.

Защита программного обеспечения от непреднамеренного и преднамеренного изменения соответствует уровню «А» по МИ 3286-2010