Mega Analytics v3.3 · random resource promos · report blocks UX · scroll fix
Номер по Госреестру СИ: 64204-16
64204-16 Микроскоп конфокальный лазерный
(LEXT OLS 4100)
Назначение средства измерений:
Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров в нано- и микрометровом диапазонах и анализа поверхностей объектов.
Публичные реестры средств измерений, результатов поверки, эталонов, стандартных образцов, методик и документов по обеспечению единства измерений.
LEXT OLS 4100
Специализированный ресурс Ростеста, посвящённый программному обеспечению и цифровым сервисам.
Формирование DCC, проверка XML, хранение в реестре, визуализация сертификатов, публичные ссылки и QR-коды.
| Владелец | Категория | Количество СИ | Количество поверок | Поверок на одно СИ |
|---|
| UUID | Номер типа | Начало версии | Окончание версии | Состояние |
|---|---|---|---|---|
| 2f64c6b9-2b5d-9fdd-59ac-2962955d0a9b | 64204-16 | 2020-05-07 | — | актуальная |
Цифровые продукты для производителей, поверителей и владельцев СИ: автоматизация бизнес-процессов, обмен и визуализация данных.
Сертификация программного обеспечения, проверка ПО испытательного оборудования, утверждение типа СИ и аттестация методик измерений.
Дата публикации - 07.05.2020
Срок свидетельства -
Номер записи - 155463
ID в реестре СИ - 377863
Тип производства - единичное
Описание типа
Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Методика поверки
LEXT OLS 4100, Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100
Изготовитель - Фирма "OLYMPUS Corporation"
Страна - ЯПОНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да
Отчет "V_21. Поверка по организации в динамике по месяцам" полезен для оценки объёмов количества поверок, проводимых аккредитованной организацией. Отчет строится в динамике по месяцам и представлен тремя графиками. Графики являются интерактивными с возможностью масштабирования и экспорта в сторонние программы. В зависимости от выбранного графика приводятся объёмы поверок (все поверки, периодические поверки, извещения о непригодности) по месяцам, конкретной организации или группы организаций.
Для справки в шапке отчета приводится усредненная статистика по запросу:
Для построения отчета необходимо предварительно сконфигурировать два параметра его отображения:
1- Выбрать интересующим временной интервал (в БД имеются данные начиная с 2010 г.)
2- Выбрать аккредитованную на поверку организацию (несколько организаций) из списка СИ (выпадающий список позволяет делать множественный выбор). Существование дубликатов организаций вызвано разницей в написании наименований и преобразовании форм собственности организаций за все время ведения федерального фонда. Для удобства выбора в скобках указано общее кол-во поверок в системе, приходящееся на конкретного поверителя.
Кол-во поверок - 5
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 3
Кол-во средств измерений - 2
Кол-во владельцев - 2
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 364 дн.
№756 от 2016.06.16 Об утверждении типов средств измерений
| ИМПОРТНОЕ СИ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
|---|
|
№ в реестре cрок св-ва |
Наименование СИ, обозначение, изголовитель | ОТ, МП | МПИ |
|---|---|---|---|
|
50074-12 01.06.2017 |
Микроскопы измерительные оптические, OLYMPUS STM6, STM6-LM Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
64204-16 |
Микроскоп конфокальный лазерный, LEXT OLS 4100 Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
76632-19 29.11.2024 |
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные, LEXT OLS5000 Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
78538-20 29.06.2030 |
Микроскопы измерительные оптические, STM7 Фирма "OLYMPUS Corporation" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
Простой и информативный отчёт, охватывающий все организации, аккредитованные на право поверки. В качестве исходной информации используются данные ФГИС АРЩИН за период с 2010 года по настоящее время.
В отчете представлены данные по количеству поверок средств измерений, проводимых аккредитованными организациями на территории РФ.
Отчёт имеет два варианта предварительных фильтров:
Отчёт состоит из одной круговой диаграммы и свободной таблицы. Круговая диаграмма построена на инструменте Google Chart и показывает доли поверок самых больших организаций.
Сводная таблица имеет более 4000 строк, при этом, реальное количество аккредитованных организаций не превышает 2 тысяч. Существование дубликатов организаций вызвано разницей в написании наименований и преобразовании форм собственности организаций за все время ведения федерального фонда.
В таблице по каждой из организаций представлена следующая информация:
Бесплатный
| Наименование организации | Cтатус | Поверенные модификации | Кол-во поверок | Поверок в 2026 году | Первичных поверок | Периодических поверок | Извещений | Для юриков | Для юриков первичные | Для юриков периодические |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| АО "НИЦПВ" (RA.RU.311409) | 4 | 0 | 3 | 0 | 0 | 0 | 0 | |||
| ОАО "НИЦПВ". (01.00317-2011) | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
| Организация, регион | Стоимость, руб | Средняя стоимость |
|---|
Управление микроскопом осуществляется с помощью встроенного контроллера и внешней ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО).
Программное обеспечение вычисляет положение максимума интенсивности для каждой точки матрицы, после чего восстанавливается форма поверхности, основанная на регистрации максимума интенсивности при перемещении объектива по вертикали.
Специализированное программное обеспечение служит для управления механическими частями микроскопа, для непосредственного измерения, для обработки полученных результатов, построения трехмерных изображений рельефа поверхности, выделения отдельных профилей поверхности в заданном направлении и гистограммы распределения пиков по высоте, а также позволяет рассчитывать параметры шероховатости.
Уровень защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений - «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.
Идентификационные данные программного обеспечения представлены в таблице 1.
Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения
|
Идентификационные данные (признаки) |
Значение |
|
Идентификационное наименование ПО |
OLS4100 |
|
Номер версии (идентификационный номер) ПО |
Версия 3.1.5 |
|
Цифровой идентификатор ПО |
2е138c12a2d305402d5b51c4ad73495b6826 67f53b234a2147е61433418е37a2 |
SOFT.Rostest — программные и цифровые решения — Специализированный ресурс Ростеста, посвящённый программному обеспечению и цифровым сервисам.
наносится в виде наклейки на прибор и титульный лист технической документации фирмы-изготовителя типографским способом.
Сведения о методиках измерений
Сведения о методиках (методах) измерений
Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100. Руководство по эксплуатации.
Нормативные и технические документы
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к микроскопу конфокальному лазерному LEXT OLS 4100
1 ГОСТ Р 8.763-2011 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 140-9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм
2 Техническая документация фирмы-изготовителя
Основные средства поверки: мера ширины и периода специальная МШПС-2.0К (регистрационный №33598-06), набор мер длины концевых плоскопараллельных (регистрационный №1843-64), объект-микрометр ОМ-О (регистрационный №28962-05).
Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100 относится к классу бесконтактных оптических приборов, принцип действия которых основан на смещении конфокальной плоскости освещения.
Метод конфокальной микроскопии основан на размещении в плоскости измерения апертуры, дающей возможность получения максимального контраста изображения при нахождении измеряемого участка поверхности в фокусе. Метод позволяет измерять поверхности с неровностями до 0,5 мм (в данном устройстве изображение программно сшивается после проведения замеров в заданном диапазоне высот).
Микроскоп состоит из блока осветителя с источниками света (полупроводниковый лазер и светодиод), конструктивно выполненного в виде моноблока, входящего в состав измерительной головки, расположенной на колонне с возможностью перемещения по вертикали. Колонна установлена на металлическом основании, оснащенном антивибрационными подушками, и расположенном на металлической раме. Также в измерительной головке располагается оптическая система (набор диафрагм, фильтров, делитель светового пучка, объективы, определяющие поле зрения (являются сменными)), пьезопривод, цифровая камера и фотоприемник. На основании установлен автоматический предметный столик. В состав микроскопа входит компьютер и контроллер с интерфейсными платами для обработки видеосигнала, управления пьезоприводом, приемом-передачей прочих управляющих сигналов, а также приемом сигналов о результатах измерений.
Измерения проводятся в трехмерной системе координат. При вертикальном сканировании все точки поверхности поочередно проходят через фокус. По последовательности полученных картин фотоприемник фиксирует изменения интенсивности света в каждой точке в зависимости от расстояния.
Режимы работы микроскопа устанавливаются пользователем с помощью органов управления или программного обеспечения (далее - ПО) управляющей ПЭВМ. Органы управления и подстыковочные разъемы расположены на задней панели.
Место нанесения знака поверки
Рисунок 1 - Общий вид микроскопа LEXT OLS 4100
Места расположения пломб
Рисунок 2 - Места расположения пломб
В комплект поставки входят: микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100, руководство по эксплуатации, методика поверки.
Таблица 2
|
Наименование характеристики |
Значение характеристики |
|
Диапазон измерений линейных размеров (ось Z), мкм |
от 0,5 до 500 |
|
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров (ось Z), мкм (где L - измеряемая длинна, мкм) |
±(0,1 + — ) 20 |
|
Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY, мкм, для объектива: 20х 50х 100х |
от 80 до 600 от 30 до 250 от 15 до 120 |
|
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY, % |
±5 |
|
Величина хода устройства фокусировки по оси Z, мм |
100 |
|
Г абаритные размеры основного блока микроскопа (ширинахвысотахглубина), мм, не более |
290х480х390 |
|
Масса в транспортировочной упаковке, кг, не более |
130 |
|
Рабочий диапазон температуры окружающей среды, °С |
20±3 |
|
Относительная влажность воздуха, % |
50±10 |
|
Диапазон атмосферного давления, кПа |
от 97 до 105 |
|
Напряжение питания от сети переменного тока частотой (50±1) Гц, В |
220±22 |
|
Потребляемая мощность, В • А, не более |
2420 |
