Сведения о средстве измерений: 96294-25 Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный

Номер по Госреестру СИ: 96294-25
96294-25 Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный
(Helios NanoLab 650)

Назначение средства измерений:
Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный Helios NanoLab 650 (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и структур, проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным ионным пучком и измерения локального элементного состава методом энергодисперсионной спектроскопии.

сертификация программного обеспечения
Внешний вид. Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный, http://oei-analitika.ru рисунок № 1
Внешний вид.
Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный
Рисунок № 1
Внешний вид. Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный, http://oei-analitika.ru рисунок № 2
Внешний вид.
Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный
Рисунок № 2

Общие сведения

Дата публикации - 10.09.2025
Срок свидетельства -
Номер записи - e964f40c-a39e-350c-2c6b-8abe6ec46b60
ID в реестре СИ - 1426842
Тип производства - единичное
Описание типа

Поверка

Интервал между поверками по ОТ - 1 год
Наличие периодической поверки - Да
Методика поверки

Модификации СИ

Helios NanoLab 650,

Производитель

Изготовитель - FEI Company
Страна - СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности -

Статистика

Кол-во поверок - 1
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 0
Кол-во средств измерений -
Кол-во владельцев -
Усредненный год выпуска СИ -
МПИ по поверкам - дн.

Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ

№1853 от 2025.08.29 ПРИКАЗ_Об утверждении типов средств измерений (15)

№1853 от 2025.08.29 Об утверждении типов средств измерений

Наличие аналогов СИ: Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный (Helios NanoLab 650)

ИМПОРТНОЕ СИ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ
№ в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель

Все средства измерений FEI Company

№ в реестре
cрок св-ва
Наименование СИ, обозначение, изголовитель ОТ, МП МПИ
86262-22

Система микроскопической инспекции, FEI Helios G4 CX
FEI Company (СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ )
ОТ
МП
1 год
96294-25

Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный, Helios NanoLab 650
FEI Company (СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ )
ОТ
МП
1 год

Ульяновск - административный центр Ульяновской области. Является городом областного значения, образует муниципальное образование город Ульяновск со статусом городского округа. С 2015 года является единственным в России литературным городом ЮНЕСКО. Расположен на Приволжской возвышенности, на берегах рек Волги и Свияги, в месте слияния их русел. Он расположен в 890 км к востоку/юго-востоку от Москвы. Население: 617,352

Основу экономики города составляют предприятия автомобильной промышленности, двигателестроения, авиастроения, приборостроения, машиностроения и металлообработки, также развиты электроэнергетика, розничная торговля и капитальное строительство. Далее следуют банковская деятельность, сфера услуг, туризм, пищевая и легкая промышленность.

Объем отгруженных товаров собственного производства, выполненных работ и услуг по собственным обрабатывающим производствам в 2010 году - 65,54 млрд. рублей. В промышленном производстве города наибольший объем отгруженной продукции приходится на: производство готовых металлических изделий, машин и электрооборудования, транспортных средств; производство пищевых продуктов, включая напитки; производство строительных материалов; производство мягкой и корпусной мебели.

Отчет "Анализ рынка поверки в Ульяновске" предоставляет исчерпывающую информацию по деятельности организаций, аккредитованных в Национальной системе аккредитации на право поверки средств измерений в городе Ульяновск.

При проведении исследований были введены следующие ограничения:

  • в отчете присутствуют организации с первичными или периодическими поверками от 100 шт. с 2017 года и действующими аттестатами аккредитации на текущий год;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • на первом и втором этапах фильтром отсекаются типы СИ с менее чем 10 поверками в год на организацию;
  • место регистрации или осуществления деятельности организаций должно совпадать с выбранным городом;
  • топ типов СИ ограничен 500 позициями по каждой организации (сортировка по убыванию количества поверок);
  • топ типов СИ ограничен 100 позициями по каждой организации при поиске по видам измерений (сортировка по убыванию количества поверок).

Содержание отчета:

  • Список организаций-поверителей, осуществляющих поверку в городе Москва по данным ФСА и ФГИС АРШИН.
  • Объемы первичных и периодических поверок за период с 2017г. по н.в.
  • Информация о местах осуществления деятельности организаций-поверителей.
  • Доля рынка поверок в % среди всех организаций, исследуемого города (предоставление информации в графическом и табличном видах).
  • Детальный анализ по каждой из организации, работающей в выбранном городе.
  • Анализ деятельности в разрезе первичных, периодических поверок и видов измерений.
  • Количество поверок по типам СИ в динамике по годам.
  • Индикация импортных аналогов средств поверки (в соответствии с ПЕРЕЧЕНЕМ СИ ОТЕЧЕСТВЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА, АНАЛОГИЧНЫХ СРЕДСТВАМ ИЗМЕРЕНИЙ ИМПОРТНОГО ПРОИЗВОДСТВА от 09.2022г)
  • Индикация типов СИ по ПП РФ №250 от 20.04.2010 г.
  • Быстрый анализ контрагентов организаций-поверителей.
  • Анализ цен на поверку СИ по Фед. округу.

Стоимость 200 руб. или по подписке

Кто поверяет Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный (Helios NanoLab 650)

Наименование организации Cтатус Поверенные модификации Кол-во поверок Поверок в 2026 году Первичных поверок Периодических поверок Извещений Для юриков Для юриков первичные Для юриков периодические
АО "НИЦПВ"
(RA.RU.311409)
  • Helios NanoLab 650
  • 1 1 0 0 0 0 0

    Стоимость поверки Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный (Helios NanoLab 650)

    Организация, регион Стоимость, руб Средняя стоимость

    Программное обеспечение

    Управление микроскопом, получение, обработку и запоминание изображений осуществляют с помощью встроенного контроллера и внешней ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО) xT Microscope Control.

    ПО xT Microscope Control не может быть использовано отдельно от микроскопа. Конструкция микроскопа исключает возможность несанкционированного влияния на ПО и измерительную информацию. Метрологически значимая часть ПО микроскопа и измеренные данные достаточно защищены с помощью специальных средств защиты от преднамеренных изменений.

    Идентификационные данные (признаки) метрологически значимой части ПО указаны в таблице 1.

    Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

    Идентификационное наименование ПО

    xT Microscope Control

    Номер версии (идентификационный номер) ПО

    5.5.1.3318

    Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода)

    -

    Уровень защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений - «средний» в соответствии с Р 50.2.077-2014.


    Знак утверждения типа

    Знак утверждения типа

    наносится на лицевую панель измерительного модуля в виде наклейки и на титульный лист эксплуатационной документации типографским способом.


    Сведения о методиках измерений

    Сведения о методиках (методах) измерений

    приведены в документе «Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный Helios NanoLab 650. Руководство по эксплуатации», раздел 5 «Проведение измерений».


    Нормативные и технические документы

    Нормативные документы, устанавливающие требования к средству измерений

    Государственная поверочная схема для средств измерения длины в диапазоне от 10-9 до 100 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм, утвержденная приказом Росстандарта от 29.12.2018 № 2840.

    Правообладатель

    Фирма FEI Company, США

    Адрес: 5350 NE Dawson Creek Drive, Hillsboro, Oregon, 97124, США

    Тел./факс: +1 (503) 726-75-00

    Web-сайт: https://www.fei.com/

    E-mail: info@fei.com

    Изготовитель

    Фирма FEI Company, США
    Адрес: 5350 NE Dawson Creek Drive, Hillsboro, Oregon, 97124, США
    Тел./факс: +1 (503) 726-75-00
    Web-сайт: https://www.fei.com/
    E-mail: info@fei.com

    Испытательный центр

    Акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств
    поверхности и вакуума»
    (АО «НИЦПВ»)
    Адрес: 119421, город Москва, вн. тер. г. муниципальный округ Обручевский, ул.
    Новаторов, д. 40, к.1, помещ. 1/2
    Тел./Факс: +7 (495) 935-97-77
    E-mail: nicpv@mail.ru

    Правообладатель

    Фирма FEI Company, США
    Адрес: 5350 NE Dawson Creek Drive, Hillsboro, Oregon, 97124, США
    Тел./факс: +1 (503) 726-75-00
    Web-сайт: https://www.fei.com/
    E-mail: info@fei.com

    Принцип получения изображения в микроскопе основа на модуляции яркости монитора видеоконтрольного устройства сигналами, пропорциональными числу зарегистрированных вторичных электронов, возникающих при сканировании сфокусированного электронного или ионного зонда (пучка) по поверхности объекта. Отношение размера изображения на мониторе к размеру растра на образце определяет увеличение микроскопа.

    Наличие сфокусированного ионного зонда (пучка) позволяет производить локальное контролируемое травление образца ионным пучком, при этом режимы травления регулируются изменением ускоряющего напряжения и тока ионного пучка. Контроль параметров рельефа, модифицированного в результате ионного травления (измерение линейных размеров), осуществляется в режиме растрового электронного микроскопа.

    Микроскоп представляет собой стационарную автоматизированную систему, выполненную на базе растрового электронного микроскопа и работающую в диапазоне микро- и наноразмеров.

    Микроскоп состоит из измерительного модуля, стойки электроники, форвакуумного насоса и рабочего места оператора с персональным компьютером. Измерительный модуль микроскопа включает в себя электронно-оптическую систему (колонна), ионную колонну с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, вакуумную камеру образцов с механизмом их перемещения, детектор вторичных электронов, детектор энергодисперсионного (EDS) спектрометра, вакуумную систему, видеоконтрольное устройство, блок электроники.

    Пломбирование микроскопа не предусмотрено. Заводской № 9921793 нанесён типографским способом на шильдик прибора, расположенный внизу задней панели измерительного модуля. Нанесение знака поверки на микроскоп не предусмотрено. Общий вид микроскопа и место нанесения знака утверждения типа СИ приведены на рисунке 1.

    Место нанесения знака утверждения типа СИВнешний вид. Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный (Helios NanoLab 650), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 1 - Общий вид микроскопа

    Общий вид места расположения шильдика микроскопа с заводским номером приведен на рисунке 2.

    Внешний вид. Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный (Helios NanoLab 650), http://oei-analitika.ru

    Рисунок 2 - Общий вид места расположения шильдика с заводским номером микроскопа


    Таблица 4 - _____________________________________

    Наименование

    Обозначение

    Количество

    Микроскоп электронноионный растровый измерительный

    Helios NanoLab 650

    1 шт.

    Руководство по эксплуатации

    -

    1 экз.


    Таблица 2 - Метрологические характеристики

    Наименование

    Значение

    Диапазон измерений линейных размеров, мкм

    от 0,003 до 1000

    Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений, мкм

    ±(0,001+3L/100),

    где L - измеряемый размер в

    мкм

    Энергетическое    разрешение    энергодисперсионного

    спектрометра на линии Ка марганца, эВ, не более

    129

    Таблица 3 - Основные технические характеристики

    Наименование характеристики

    Значение

    Габаритные размеры (ширинахглубинахвысота), мм, не более: - измерительный модуль

    900x1300x2000

    - стойка электроники

    600x800x2000

    - насос форвакуумный

    282x432x302

    Напряжение электрического питания от однофазной сети переменного тока частотой 50 Гц, В

    от 207 до 253

    Условия эксплуатации:

    - температура окружающего воздуха, 0С

    от +18 до +22

    - относительная влажность воздуха при, %, не более

    80


    Настройки внешнего вида
    Цветовая схема

    Ширина

    Левая панель