Номер по Госреестру СИ: 48288-11
48288-11 Дифрактометр рентгеновский
(Shimadzu XRD-7000)
Назначение средства измерений:
Дифрактометр рентгеновский "Shimadzu XRD-7000", (далее по тексту дифрактометр) предназначен для измерения угловой зависимости интенсивности отражённого от вещества излучения для последующего вычисления значений параметров кристаллической решетки и оценки качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных.
Внешний вид.
Дифрактометр рентгеновский
Рисунок № 1
Общие сведения
Дата публикации - 08.05.2018
Срок свидетельства -
Номер записи - 137347
ID в реестре СИ - 359747
Тип производства - единичное
Описание типа
Поверка
Интервал между поверками по ОТ - 2 года
Наличие периодической поверки - Да
Модификации СИ
нет модификации,
Производитель
Изготовитель - Фирма "SHIMADZU CORPORATION"
Страна - ЯПОНИЯ
Населенный пункт -
Уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности - Да
Каталог СИ, используемый в сервисе ОЕИ-Аналитика имеет трехуровневую структуру вида: области измерений (более 20), разделы областей измерений (более 250) и группы СИ (более 10 тыс.). При разработке каталога были использованы как существующие кодификаторы: МИ 2803-2014, МИ 2314-2006, МИ 2314-2022, так и собственные наработки. Перед применением каталог был адаптирован и обогащен данными из реального реестра, утвержденных типов СИ ФГИС АРШИН.
Отчет "Количество типов средств измерений в ФГИС АРШИН по разделам областей измерений" предназначен для сравнительного анализа количества утвержденных типов средств измерений, приходящихся на различные разделы областей измерений. Отчет состоит из двух графиков (одной круговой и одной столбчатой диаграммы) и двух интерактивных таблиц. Таблицы обладают функцией поиска и сортировки по любой из колонок.
Стоит отметить, что отнесение того или иного типа СИ к разделу области измерений осуществляется не вручную, а с использованием специального программного алгоритма по ключевым словосочетаниям. При таком подходе качество распределения СИ и покрытие реестра типов СИ АРШИНА зависит от качества, предложенных словосочетаний. По этой причине 20% типов СИ, занесённых в АРШИН автоматически распределить не удалось, что не должно существенно отразиться на процентном соотношением или пропорции между разделами областей измерений.
На круговой диаграмме показано количественное соотношение между разделами областей измерений по количеству утвержденных типов СИ. Ввиду того, что некоторые типы СИ могут входить в разные разделы областей измерений, суммарное количество типов СИ, приведенных на диаграмме будет превышать кол-во типов СИ, представленных в ФГИС АРШИН.
В отличии от круговой диаграммы столбчатая демонстрирует тоже разделение типов СИ по разделам областей измерений, но уже в динамике по годам начиная с 2000 года.
Статистика
Кол-во поверок - 1
Выдано извещений - 0
Кол-во периодических поверок - 1
Кол-во средств измерений - 1
Кол-во владельцев - 1
Усредненный год выпуска СИ - 0
МПИ по поверкам - 730 дн.
Приказы РСТ, где упоминается данный тип СИ
№6335 от 2011.11.24 Об утверждении типов средств измерений (Регистравционный номер в Гос. реестре 48270-11 по 48286-11,34132-11,14177-11,19953-11,48287-11 по 48292-11
№1831 от 2017.08.31 О продлении срока действия свидетельств об утверждении типа средств измерений
Наличие аналогов СИ: Дифрактометр рентгеновский (Shimadzu XRD-7000)
| ИМПОРТНОЕ СИ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
ОТЕЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛОГ № в реестре, наименование СИ, обозначение, изголовитель |
|---|
Все средства измерений Фирма "SHIMADZU CORPORATION"
|
№ в реестре cрок св-ва |
Наименование СИ, обозначение, изголовитель | ОТ, МП | МПИ |
|---|---|---|---|
|
17037-98 |
Хромато-масс-спектрометры, QP 5000 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
1 год | |
|
17819-98 |
Спектрофотометр атомно-абсорбционный, AA-6601F Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
1 год | |
|
17820-98 |
Спектрофотометр инфракрасный, FTIR-8201 PC Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
1 год | |
|
17822-98 |
Хроматограф газовый, GC-17A Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
1 год | |
|
19381-09 15.04.2024 |
Спектрофотометры атомно-абсорбционные, АА-6200, АА-6800, AA-6300, АА-7000 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
19382-11 27.06.2016 |
Спектрофлуориметры, RF-5301PC Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
19383-10 06.04.2020 |
Хроматографы газовые, GC-14B, GC-17Av3, GCMS-QP5000/5050A, GC-2010, GC-2010Plus, GC-2014, GCMS-QP2010, GCMS-QP2010S, GCMS-QP2010Plus Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
21669-01 |
Спектрофотометр атомно-абсорбционный, AA-680 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
1 год | |
|
22613-08 01.06.2013 |
Весы электронные лабораторные, BL Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
22614-08 01.06.2013 |
Весы электронные лабораторные, BW, BX, UW, UX Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
25373-08 01.06.2013 |
Весы электронные, EL и ELB Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
26276-08 01.01.2014 |
Весы электронные лабораторные, AUW/AUW-D/AUX/AUY Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
26305-04 01.02.2009 |
Дифрактометры рентгеновские, XRD 6000, XRD 7000 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
2 года | |
|
26305-09 27.08.2024 |
Дифрактометры рентгеновские, XRD 6000, XRD 7000 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
2 года |
|
28035-04 |
Спектрофотометр, UV-1601 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
1 год | |
|
30425-05 |
Хроматограф жидкостной, Shimadzu-LC-6А Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
1 год | |
|
34800-07 |
Микротвердомер, HMV-2T Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
34906-12 29.06.2017 |
Спектрометры эмиссионные с индуктивно связанной плазмой, ICPE 9000 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
40187-08 01.01.2014 |
Микротвердомеры, HMV-2 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
43425-09 01.01.2015 |
Весы электронные лабораторные, BW-K/BX-K Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
44557-10 01.08.2015 |
Машины испытательные универсальные, AG Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
46429-11 04.03.2016 |
Микротвердомеры, Shimadzu DUH211, Shimadzu DUH211S Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
46429-17 19.06.2027 |
Микротвердомеры, DUH-211, DUH-211S Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
46831-11 19.05.2016 |
Машины испытательные, EHN Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
47102-11 31.03.2026 |
Спектрометры оптические эмиссионные, PDA-7000, PDA-8000 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
47918-11 03.10.2016 |
Устройства испытательные, JF Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
47919-11 03.10.2016 |
Машины испытательные, ММТ, ЕМТ Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
48288-11 |
Дифрактометр рентгеновский, Shimadzu XRD-7000 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
2 года |
|
48405-11 06.10.2026 |
Анализаторы нуклеиновых кислот, BioSpec-nano Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
48951-12 09.12.2026 |
Анализаторы общего углерода, TOC-L мод. TOC-LCSH, TOC-LCPH, TOC-LCSN, TOC-LCPN Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
48951-12 09.12.2026 |
Анализаторы общего углерода, TOC-L мод. TOC-LCSH, TOC-LCPH, TOC-LCSN, TOC-LCPN Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
48982-12 09.12.2026 |
Дифрактометры рентгеновские, XRD 6100 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
49262-12 14.03.2017 |
Масс-спектрометры жидкостные, LCMS-8030 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
50061-12 03.04.2022 |
Спектрофотометры, UV-2600, UV-2700 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
50284-12 15.05.2027 |
Спектрометры рентгенофлуоресцентные, EDX-720-P/800HS-P, XRF 1800, MXF 2400 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
54896-13 31.07.2024 |
Машины испытательные, AG-Xplus мод. AG-Xplus-0,5; AG-Xplus-1; AG-Xplus-HS-0,5; AG-Xplus-HS-1; AG-Xplus-SC-0,5; AG-Xplus-SC-1; AG-XDplus-0,5; AG-XDplus-1 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
54899-13 31.07.2029 |
Машины испытательные, EZTest мод. EZ-SX-0,5; EZ-SX-1; EZ-LX-0,5; EZ-LX-1; EZ-LX HS-0,5; EZ-LX HS-1 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
54913-13 26.06.2029 |
Анализаторы размеров частиц лазерные, SALD мод. SALD-201V, SALD-301V, SALD-2201, SALD-3101, SALD-7101, SALD-2300, SALD-7500nano Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
54996-13 31.07.2024 |
Машины испытательные, UH Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
57523-14 03.06.2019 |
Хроматографы газовые с детектором, GC-2010Plus (хроматографы) BID (детектор) Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
57524-14 15.04.2024 |
Хромато-масс-спектрометры модернизированные, GCMS-QP2010Ultra, GCMS-QP2010SE Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
1 год | |
|
57680-14 29.04.2029 |
Машины испытательные, AGS-X Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
58807-14 20.10.2019 |
Спектрометры рентгенофлуоресцентные, EDX-7000, EDX-8000 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
58807-17 16.07.2024 |
Спектрометры рентгенофлуоресцентные, EDX-7000, EDX-7000P, EDX-8000, EDX-8000P Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
59082-14 19.09.2024 |
Фурье-спектрофотометры инфракрасные, IRTracer-100 и IRAffinity-1S Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
59373-14 01.11.2024 |
Машины испытательные, EHF Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ |
1 год |
|
60877-15 01.04.2025 |
Спектрометры параллельного действия с индуктивно связанной плазмой атомно-эмиссионные, ICPE-9800 мод. ICPE-9810, ICPE-9820 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
63431-16 16.03.2026 |
Хроматографы жидкостные, Prominence Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
63487-16 28.03.2026 |
Хроматографы жидкостные с детекторами, LC-30 NEXERA (хроматографы) SPD-М30А, RID-20A, Decade Elite, Decade Lite, LCМS-8030, LCМS-8040 (детекторы) Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
63715-16 14.04.2026 |
Спектрофлуориметры, RF-6000 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
64032-16 18.05.2026 |
Анализаторы общего углерода, TOC-4200, TOC-Vws, TOC-Vwp Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
64401-16 28.06.2026 |
Хромато-масс-спектрометры жидкостные, LCMS-8060 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
66402-17 19.01.2027 |
Хромато-масс-спектрометры газовые, GCMS-QP2020 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
66787-17 01.03.2027 |
Масс-спектрометры с индуктивно-связанной плазмой , ICPMS-2030 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
73667-18 29.12.2024 |
Весы лабораторные электронные неавтоматического действия, AP Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
74829-19 23.04.2024 |
Хромато-масс-спектрометры жидкостные, LCMS-8045 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
76065-19 13.09.2024 |
Калориметры дифференциальные сканирующие, модификаций DSC-60 Plus, DSC-60A Plus Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
76391-19 18.10.2024 |
Хроматографы жидкостные, Prominence-i (мод. LC-2030 Plus, LC-2030C Plus, LC-2030C 3D Plus, LC-2030C LT Plus) и Nexera-i (мод. LC-2040C Plus, LC-2040C 3D Plus, LC-2040С MT Plus, LC-2040С 3D MT Plus) Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
76854-19 10.12.2024 |
Хроматографы газовые, Nexis GC-2030 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
78795-20 28.07.2025 |
Спектрофотометры двухлучевые, UV-2600i, UV-2700i, UV-3600i Plus, SolidSpec-3700i Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
78257-20 06.05.2025 |
Хроматографы газовые, GC-2010Plus и GC-2014 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
78890-20 03.08.2025 |
Хромато-масс-спектрометры жидкостные, LCMS-9030 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
79183-20 11.09.2025 |
Весы электронные, UW Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
82085-21 18.06.2026 |
Хроматографы газовые, GC-2010 Pro Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
82777-21 26.08.2026 |
Хромато-масс-спектрометры газовые, GCMS-TQ8050 NX Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
84280-21 28.12.2026 |
Анализаторы термомеханические, ТМА-60 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
84281-21 28.12.2026 |
Анализаторы термические синхронные, DTG-60 Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
|
88041-23 27.01.2028 |
Спектрометры рентгенофлуоресцентные, EDX-8100P Фирма "SHIMADZU CORPORATION" (ЯПОНИЯ ) |
ОТ МП |
1 год |
Отчет представляет собой таблицу с перечнем эталонов организаций, применяемых при поверке расходомеров и теплосчетчиков. По каждому эталону приведена статистика поверок СИ по годам. В качестве эталона могут выступать ГЭТ, эталоны единиц величин или СИ, используемые в качестве эталонов.
Кто поверяет Дифрактометр рентгеновский (Shimadzu XRD-7000)
| Наименование организации | Cтатус | Поверенные модификации | Кол-во поверок | Поверок в 2025 году | Первичных поверок | Периодических поверок | Извещений | Для юриков | Для юриков первичные | Для юриков периодические |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ООО "ИНЭКС СЕРТ" (RA.RU.312302) | 1 | 0 | 1 | 0 | 1 | 0 | 1 |
Стоимость поверки Дифрактометр рентгеновский (Shimadzu XRD-7000)
| Организация, регион | Стоимость, руб | Средняя стоимость |
|---|
Программное обеспечение
Программное обеспечение включает программы управления перемещением счетчика, расположенного на гониометре, программы обработки первичных данных и программы расчета характеристик анализируемых веществ.
Идентификационные данные ПО представлены в таблице 1. Таблица 1
|
Наименование программного обеспечения |
Идентификационное на именование программного обеспечения |
Номер версии (идентификационный номер) про граммного обеспечения |
Цифровой идентификатор программного обеспечения (защитный ключ- заглушка) |
Алгоритм вычисления цифрового идентификатора программного обеспечения |
|
XRD |
XRD.exe |
VI |
D2263A1FCEF3 E920E75652585 C29911B |
MD5 |
Компоненты программного обеспечения описаны в "Руководстве по программному обеспечению XRD-7000" (P/N кат. №305-20253-01).
В зависимости от цели последующего анализа характеристик веществ и материалов, программное обеспечение позволяет подвергать данные результатов измерения различной об-
работке профилей Брэгговских отражений (сглаживание, вычитание фона, вычитание Ка2 составляющей) и обработке параметров отражений (поиск отражений, коррекция систематической ошибки, метод внутреннего/внешнего стандарта). Кроме того, возможно проводить качественное и количественное определения фаз в анализируемом веществе, а также другие виды анализа посредством дополнительного программного обеспечения.
Стандартное программное обеспечение для обработки данных включает в себя сле-
|
дующие пункты. (1) Основная обработка данных |
Сглаживание Вычитание фона Вычитание Ка2 составляющей Поиск Брэгговских отражений (пиков) Коррекция систематической ошибки Коррекция методом внутреннего/внешнего стандарта |
|
(2) Операции с данными |
аХА(е)+Ьх£2(е+с) a, b, c: коэффициенты |
|
(3) Преобразования файлов |
Конвертирование из формата данных XRD-7000 в данные ASCII Конвертирование из формата данных ASCII в данные XRD-7000 Конвертирование из формата данных XD-D1 в данные XRD-7000 |
|
(4) Графический просмотр |
Вертикальное/горизонтальное размещение данных Преобразование масштаба оси интенсивности в логарифмическую форму Смена цветов изображения Смена типа изображения
Произвольное масштабирование по осям Наложение трехмерных изображений
|
(5 ) Качественный анализ Автоматический поиск с использованием
пользовательской базы данных или базы JCPDS PDF1 (опциональная).
(6) Создание пользовательской базы данных Комплектование групп происходит из данных, полученных на XRD-7000 или из базы данных JCPDS.
(7) Количественный анализ Создание/регистрация калибровочной кри
вой
Количественные расчеты
-
• Расчет по интенсивности (интенсивность, интегрированная интенсивность, соотношение интенсивностей)
-
• Метод внутреннего стандарта
Подробности работы программного обеспечения изложены в “Руководстве по программному обеспечению XRD-7000” (P/N 305-20253-01) или в “Руководстве по дополнительному программному обеспечению”.
Метрологически значимая часть ПО, связанная с измерением угловой зависимости интенсивности отраженного излучения размещается на программном диске изготовителя и имеет защиту от доступа и модификации.
Защита программного обеспечения измерения угловой зависимости интенсивности отраженного излучения от непреднамеренного и преднамеренного изменения соответствует уровню "А" по МИ 3286-2010.
Влияние алгоритмов, используемых в программном обеспечении при: первичной обработке данных для определения интегральной ширины не более, % 3
в программах вычисления метрологической характеристики средства измерений - интегральная ширина, не более, %. 13
Знак утверждения типа
Знак утверждения типаЗнак утверждения типа наносится на титульный лист Паспорта методом компьютерной графики и на корпус прибора, окрашиванием, с указанием названия прибора, модели, заводского номера и даты выпуска.
Сведения о методиках измерений
Нормативные и технические документы
Поверка
Поверкаосуществляется по методике поверки МП 48288-11 “Дифрактометр рентгеновский Shimadzu XRD-7000” “Методика поверки”, являющейся приложением А к Руководству по эксплуатации и утвержденной ГЦИ СИ ФГУП “ВНИИМС” 28 октября 2011 г.
Основные средства поверки: комплект стандартных образцов и мер на основе дифракционных свойств кристаллической решетки, включающий стандартные образцы утвержденного типа № 9575-2010, ПРФ-3; № 9574-2010, ПРФ-12; № 304-23-2010, ПРФС-23; № 8631-2004, ПРИ-7а; № 304-14-2010, Мера угловая физического уширения Брэгговских отражений, МФУ-2-3.
Изготовитель
Фирма SHIMADZU CORPORATION, Япония
International Marketing Division 3.
Kanda-Nishikicho 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 101-8448, Japan Phone: 81(3)3219-5641 Fax. 81(3)3219-5710,
URL http://www.shimadzu.com
Дифрактометр состоит из основного блока и блока обработки данных. В состав основного блока входит генератор рентгеновского излучения, гониометр с контролирующим его процессором и блок детектирования отраженного пучка рентгеновских лучей. Работа генератора рентгеновского излучения и гониометра контролируется блоком обработки данных. Блок обработки данных соединяется с главным блоком посредством кабеля (LAN).
Принцип действия дифрактометра основан на дифракции рентгеновских лучей от атомных плоскостей кристаллической решетки исследуемого вещества. Направляемый из источника пучок рентгеновских лучей отражается от кристаллографически определенных атомных плоскостей и фокусируется на приемной щели детектора. Регистрация дифракционной картины углового распределения отражаемых импульсов (для выделения возникающих Брэгговских отражений от систем различных кристаллографических плоскостей) осуществляется сцинтилляционным детектором - счетчиком количества зарегистрированных отраженных импульсов. Методики измерений и обработки данных изложены в руководстве по эксплуатации № P\N 305-20102-01B. Методики измерений, обработки данных и расчетов метрологических характеристик стандартных образцов и мер, используемых при проведении испытаний и поверки, изложены в прилагаемых к этим стандартным образцам Инструкциях по применению этих стандартных образцов и мер.
|
Наименование |
Кат. № |
Количество |
Примечание |
|
<Г ониометр> | |||
|
Коробка для хранения стандартных принадлежностей |
038-03014-03 |
1 | |
|
D Щель Соллера |
215-22466 |
1 |
держатель щелей |
|
R Щель Соллера |
215-22481 |
1 |
держатель щелей |
|
Держатель образца |
214-22483 |
1 | |
|
Щель, 0,05-10R |
215-22495-01 |
1 | |
|
Щель, D0,5-R |
215-22495-02 |
1 | |
|
Щель, D1-R |
215-22495-03 |
1 | |
|
Щель, D2-R |
215-22495-04 |
1 | |
|
Щель, S0,5-L |
215-22582-01 |
1 | |
|
Щель, S1-L |
215-22582-02 |
1 | |
|
Щель, S2-L |
215-22582-03 |
1 | |
|
Щель, 0,15-20R |
215-22581-04 |
1 | |
|
Щель, 0,3-20R |
215-22581-06 |
1 | |
|
Фиксаторы |
215-22506 |
2 | |
|
Винт с шестигранной шляпкой, М3*8 |
022-25003-21 |
2 | |
|
Установочный шаблон |
215-22505 |
1 | |
|
Фильтр, Ni |
215-22500-02 |
1 | |
|
Поглотитель Al |
215-22503 |
1 |
|
Подложка для стандартного образца |
215-22507-01 |
1 комплект |
5 штук |
|
Стандартный образец (порошок Si) |
215-21723 |
1 |
325 меш, 20 г |
|
Стеклянная пластина |
200-15541 |
1 | |
|
Медицинская оберточная бумага |
046-00998-03 |
1 | |
|
Шестигранный ключ |
086-03819 |
1 |
2,5 мм |
|
Шестигранный ключ |
086-03804 |
1 |
3 мм |
|
Шестигранный ключ |
086-03805 |
1 |
4 мм |
|
Шестигранный ключ |
086-03806 |
1 |
5 мм |
|
Направляющая детектора |
215-23904 |
1 |
Тип S *1 |
|
Фиксатор |
215-23905 |
1 |
Для направляющих детектора |
|
Винт с шестигранным отверстием, М5*8 |
022-27083 |
1 |
Для направляющих детектора |
|
<Рентгеновская трубка> | |||
|
Рентгеновская трубка, А-45-Cu |
062-40003-03 |
1 |
2 КВт (тип *2) |
|
Рентгеновская трубка, PW-2253/20 |
210-24016-21 |
1 |
2,7 КВт (тип *3) |
|
<Водяное охлаждение> | |||
|
Шланг в оплетке Тетрон 12*18 |
018-31506 |
15 м | |
|
Хомут, BS5315 20 |
037-61104-03 |
4 | |
|
<Кабель электропитания> | |||
|
2 Кабель электропитания, 8 мм *3 |
215-22919 |
7 м |
С зажимными разъемами 0 6 |
|
2 Заземляющий кабель, 6 мм *1 |
215-22920-01 |
7 м |
С зажимными разъемами 0 6 |
|
<Инструкции> | |||
|
Инструкция по эксплуатации XRD-7000 |
305-20256-01 |
1 |
Данное руководство |
|
Инструкция по программному обеспечению XRD-7000 |
305-20253-01 |
1 | |
|
Инструкция по эксплуатации рентгеновской трубки А-45-Си |
305-20103-01 |
1 |
2 КВт (тип *2) |
• Примечание 1) Направляющая для детектора типа L, или одна типа S поставляются вместе с оборудованием.
2,3) Рентгеновская трубка на 2 КВт (тип *2) или на 2,7 КВт (тип *3) вместе с инструкцией по эксплуатации поставляются с оборудованием.
Диапазон измерений угловых позиций
дифракции (20) (Брэгговских отражений), градус от 12 до 162
Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения угловых позиций Брэгговских отражений по 2Q, градус: ± 0,007
Диапазон измерения параметров кристаллической решётки, нм, от 0,2 до 1,4
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения
параметров кристаллической решетки, нм, ± 0,00002
Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения параметров кристаллической решетки, нм, ± 0,000001
Диапазон измерения отношений интегральных интенсивностей, % от 4 до 100
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения
отношения интегральных интенсивностей, %, ± 4
Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения отношения интегральных интенсивностей, %,
Диапазон измерения интегральной ширины Брэгговских отражений
от 0,1 до 3,0
по 2Q, градус
Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения интегральной ширины Брэгговских отражений по 2Q, градус
± 0,005
Диапазон измерения ширины на полувысоте Брэгговских отражений (FWHM)
по 2Q, градус от 0,1 до 3,0
Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения ширины на полувысоте Брэгговских отражений (FWHM ) по 2Q, градус ± 0,003
Радиус гониометра, мм,
переменный от 200 до 275
Минимальное значение угла перемещения гониометра, градус 0,0001
Напряжение на аноде рентгеновской трубки, кВ, не более,
Анодный ток рентгеновской трубки, мА, не более,
Время установления рабочего режима, мин, не более
Напряжение питания установки частотой (при 50±1) Гц, В, 220±20
Потребляемая мощность, (без компьютера и охлаждающего блока), В-А, не более
Габаритные размеры ширина х длина х высота (без компьютера), мм: 1120X1049X1790
Масса, кг, (без компьютера, охлаждающего блока и трансформаторов), не более
Продолжительность непрерывной работы, ч, без ограничений
Время наработки на отказ, ч, не менее
Мощность эквивалентной дозы в рабочем положении в любой точке
на расстоянии 0,1 м от поверхности защиты, мкЗв/ч, не более
Условия эксплуатации:
22±5
60±10
от 950 до 1030
Диапазон рабочих температур, °С,
Диапазон значений относительной влажности (при 23 °С), %, Диапазон атмосферного давления, гПа,